DBR32L
Turret Test Handler
特色
電性測試時持續傳送IC，縮短測試中的等待時間提高產出
IC放置精度±0.03mm
每一組測試站只對應1個測試壓頭
縮短更換產品治具所耗時間，提高換線效率
規格
測試站：最多8站
視覺系統：Top、Bottom、5S、Taping Vision
Turret Z軸：伺服馬達(各站獨立)
Device對位：傳送盤(Disk)
Device轉向：真空吸附
In pocket異常：自動換料
BR24L
Turret Test Handler
特色
- 保護產品減少機械碰撞，並以力量控制方式取放
- 控制馬達量化方式調整，降低手動調整不確定性
- Z軸參數各自獨立，測試疊料檢知解析能力可到0.01mm
- Taping異常品標配自動換料功能
- 吸嘴可自動校正補償，減少高度落差
選配
- 封合視覺檢測模組
- 自動換卷貼標模組
- 雷射打標模組